Толщиномер RGK TM-17 для точных измерений покрытий на металл и иных материалах

Артикул магазина:
775304
Артикул магазина:
775304
8 990
Цена на 16.01.2026
Бренд:
Модель:
Источник изображений товара:XCOM-SHOP.RU
Перед покупкой обязательно проверьте характеристики товара у производителя или поставщика
Цена на 16.01.2026
8 990

Толщиномер RGK TM-17 - это профессиональный инструмент для точного определения толщины покрытия на различных материалах, включая металлы и неметаллические поверхности. Этот прибор использует вихретоковую технологию и магнитное поле, что дает безопасное измерение без повреждения исследуемой поверхности. Благодаря встроенной памяти и автономному питанию, он подходит для лабораторных условий и полевых работ. RGK TM-17 отлично подходит для контроля качества, проведения ремонтных работ и исследований в различных сферах промышленности. Толщиномер обладает широким диапазоном измерений от 0 до 1700 мкм и высокой разрешающей способностью 0. 1 мкм, что дает точные результаты. Технология вихретоковых измерений позволяет быстро получать данные и вести учет измерений, что значительно повышает эффективность работы. Компактный и удобный в использовании, он станет надежным помощником для специалистов, реализующих проверки толщины покрытий в условиях производства и лаборатории.

Информация о товаре может содержать неточности, перед покупкой проверяйте информацию на сайте производителя.

ЭкранЕсть
Принцип измеренияВихретоковый
Диапазон измерений0 - 1700 мкм
Минимальная площадь измерений25 x 25 мм
Минимальная кривизна поверхности30 мм
Толщина подложки0.05 мм, 0.2 мм
Разрешающая способность0.1 мкм, 1 мкм
Максимальная точность0.1 мкм
Тип экранаСегментный
ВихретоковыйИзмерение с помощью вихревых токов, позволяющее определить толщину без повреждения поверхности

Обеспечивает точные измерения с высокой разрешающей способностью, безопасен для поверхностей, подходит для лабораторных и полевых условий, имеет встроенную память и автономное питание

Цена может быть высокой для некоторых пользователей, требует аккуратности при измерениях на кривых поверхностях