Рефрактометр для определения концентрации сахарозы Брикс 72008 МЕГЕОН









Источник изображений товара: ЭТМ. Внешний вид товара может отличаться от изображённого
- Бренд:
- Производитель:
- Модель:
Рефрактометр для определения концентрации сахарозы (Брикс) 72008 от компании Мегеон - это высокоточный оптический измерительный прибор, предназначенный для определения коэффициента преломления вещества и оценки содержания сахара в жидкостях. Он идеально подходит для использования в пищевой промышленности, агрокультурах и лабораторных исследованиях, где важно быстро и точно определить концентрацию сахарозы. Этот рефрактометр оснащен системой автоматической температурной коррекции (ATC), что дает высокую точность измерений при различных температурных условиях. Для проведения измерения достаточно нанести на призму 2-3 капли исследуемой жидкости, закрыть прижимным стеклом и настроить фокус. Отсутствие необходимости в источнике питания делает устройство удобным для использования в полевых условиях. Эргономичный корпус из алюминиевого сплава дает прочность и легкость, что увеличивает срок службы прибора. Благодаря простоте эксплуатации и высокой точности данный рефрактометр является незаменимым инструментом для профессиональных и любительских целей. Изделие имеет компактные размеры, легко переносится и не требует сложного обслуживания, что значительно повышает его удобство в использовании. Надежность и качество изделия подтверждены производством в Китае и проверенными технологиями измерения, что гарантирует длительный срок службы и точность результатов.
Информация о товаре может содержать неточности, перед покупкой проверяйте информацию на сайте производителя.
Высокая точность измерений благодаря системе автоматической температурной коррекции, компактный и прочный корпус из алюминиевого сплава, простота использования и обслуживания, не требует источника питания, подходит для полевых условий
Ограничен для использования только с жидкостями, требующими определения сахарозы, отсутствует встроенная подсветка для работы в условиях низкой освещенности






